葉面積指數(shù)測量儀

　　冠層結(jié)構(gòu)一一葉片的數(shù)量及其分布情況，是研究冠層中光線穿透情況，冠層生產(chǎn)力，冠

　　層下土壤水分蒸發(fā)損失總量，冠層截留，及土壤溫度的基礎(chǔ)因子。同時(shí)對于不同尺度上的生

　　態(tài)系統(tǒng)過程、系統(tǒng)之間的物流和能流的研究均是非常重要的。

　　葉面積指數(shù)測量儀(葉面積指數(shù)測量儀)魚眼鏡頭可以伸入至冠層中：鏡頭安裝在搖臂一端，由于小巧和帶有測量桿，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠層不同高度處，快速地進(jìn)行分層測量，測出群體內(nèi)光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖;圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域(天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū))。圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域(天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū))。

　　儀器介紹:

　　葉面積指數(shù)測量儀(用于各種高度植物冠層的研究,利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植

　　物冠層圖像，通過分析軟件，獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。

　　葉面積指數(shù)測量儀測試原理:

　　采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。

　　葉面積指數(shù)測量儀可測參數(shù):

　　可測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指

　　數(shù)和葉片平均傾角等

　　葉面積指數(shù)測量儀測試方法:

　　植物冠層分析儀儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法,該方法

　　是各類方法中/精確和省力、省時(shí)、快捷方便的方法。